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高速摄像机搭配DIC系统使用

时间:2019-06-28 10:02:19 浏览次数:2233次

       用高速摄像机搭配DIC系统组合成二维、三维光学应变测量系统。该系统可进行材料或物件的长周期寿命失效测试、震动分析、振动分析、强度分析、耐久性分析、碰撞分析等等
      
       该光学测量系统具有如下特点:
                                                       1.非接触式测量;
                                                       2.适合于各种材料;
                                                       3.不受试样的几何形状限制;
                                                       4.可进行二维或三维测量;
                                                       5.便携、灵活;
                                                       6.全场测量;
                                                       7.高精度(亚像素级);
                                                       8.满足高温测试;
                                                       9.满足低、中、高速测试;
                                                       10.试样制备简单;
                                                       11.便于与各种测试设备集成(工业相机、高速摄像机、红外热像仪等等);
                                                       12.测量范围从小尺寸试样到大型零件;
                                                       13.应变范围从微应变到大应变